（中央社記者鍾榮峰台北23日電）半導體測試設備大廠愛德萬測試（Advantest）布局人工智慧（AI）應用，推出提升良率解決方案，因應晶片設計到委外封測代工（OSAT）工程師測試需求。
愛德萬測試今天透過新聞稿指出，元件良率在半導體生產過程中是關鍵的效能指標，需要工程人員持續除錯和微調。
愛德萬測試表示，推出解決方案，運用人工智慧技術，自動監測測試環境並進行AI推論（inference），攔檢且分析良率下降的原因，預期可縮短偵錯時間，減少分析測試資料的工作量，加速辨別良率損失原因，並提高分析測試結果。
愛德萬測試指出，這套解決方案提供圖形化的使用者介面（GUI），便於線上傳輸測試結果，工程師不需要熟悉AI、機器學習、資料分析或統計學也能上手。
業界廠商使用愛德萬測試自動載入測試資料並分析要因的功能，愛德萬測試指出，原本每天耗費100個工程小時，廠商採用新系統後，省下約8成在釐清良率下降原因的時間，並偵測出先前遭忽略的多個良率問題和背後原因。
愛德萬測試近期也針對晶圓測試和最終測試開發測試介面解決方案，也生產光罩製造過程中重要的掃描式電子顯微鏡（SEM），並提供系統級測試解決方案和其他測試相關周邊設備。（編輯：張均懋）1111123
