愛德萬攻人工智慧測試 因應晶片設計和封測需求

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(中央社記者鍾榮峰台北23日電)半導體測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)布局人工智慧(AI)應用,推出提升良率解決方案,因應晶片設計到委外封測代工(OSAT)工程師測試需求。

愛德萬測試今天透過新聞稿指出,元件良率在半導體生產過程中是關鍵的效能指標,需要工程人員持續除錯和微調。

愛德萬測試表示,推出解決方案,運用人工智慧技術,自動監測測試環境並進行AI推論(inference),攔檢且分析良率下降的原因,預期可縮短偵錯時間,減少分析測試資料的工作量,加速辨別良率損失原因,並提高分析測試結果。

愛德萬測試指出,這套解決方案提供圖形化的使用者介面(GUI),便於線上傳輸測試結果,工程師不需要熟悉AI、機器學習、資料分析或統計學也能上手。

業界廠商使用愛德萬測試自動載入測試資料並分析要因的功能,愛德萬測試指出,原本每天耗費100個工程小時,廠商採用新系統後,省下約8成在釐清良率下降原因的時間,並偵測出先前遭忽略的多個良率問題和背後原因。

愛德萬測試近期也針對晶圓測試和最終測試開發測試介面解決方案,也生產光罩製造過程中重要的掃描式電子顯微鏡(SEM),並提供系統級測試解決方案和其他測試相關周邊設備。(編輯:張均懋)1111123